НОВОСТИ
Новый класс гетероструктур AlGaAs/GaAs
выращенных методом МОС-гидридной эпитаксии. Читайте статью в журнале Crystals v.9, 2019
ПодробнееXIV Российская конференция по физике полупроводников в сентябре
Наши коллеги примут участие в конференции и представят ряд докладов
ПодробнееСравнительный анализ квантовых ям GaAs/GaInP и GaAs/AlGaAs
полученных в условиях МОС-гидридной эпитаксии. Читайте в журнале «Неорганические материалы», том 55, №4, 2019
Подробнее«Сигм плюс» на 18-м европейском семинаре EW-MOVPE 2019, Литва
Наши специалисты примут участие в международном семинаре по газо-фазной эпитаксии EW-MOVPE, которая пройдет в Вильнюсе с 16 по 19 июня
Подробнее"Сигм плюс" и CS Clean Solutions AG приглашают на выставку SEMIEXPO
Выставка пройдет 14-15 мая в Экспоцентре на Красной Пресне, Павильон 7. Встречаемся на стенде В12
ПодробнееEpiX - модульная система исследования полупроводниковых пластин
Система 2D картирования пластин EpiX для научно-исследовательских разработок в области полупроводниковой эпитаксии
ПодробнееXXIII международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» в марте
Наши коллеги примут участие в работе симпозиума и представят свои результаты
ПодробнееОценка условий труда по ФЗ № 426
Компания "Сигм плюс" провела обязательную оценку условий труда рабочих мест
ПодробнееABSOLUT - ПРЕЦЕЗИОННЫЙ ИНСТРУМЕНТ ДЛЯ ТЕМПЕРАТУРНОЙ КАЛИБРОВКИ
AbsoluT - специальный инструмент, предназначенный для точной температурной калибровки приборов LayTec EpiTT, EpiTwinTT и EpiCurve TT. AbsoluT выдает контрольную интенсивность излучения, эквивалентную температуре 900 град., которая используется для температурной калибровки прибора с непревзойденной точностью. AbsoluT может применяться непосредственно в MOCVD реакторе без каких-то дополнительных модификаций калибруемого прибора или MOCVD системы.
AbsoluT помогает корректировать температурные вариации от реактора к реактору, от прибора к прибору, вызванные юстировкой, различнием в покрытии окна или такими фабричными допусками в оборудовании, как разные диаметры окна.